Разработка метода аналогового сигнатурного анализа

Аннотация

Крюков Д.А., Ланкин М.В., Ланкин А.М., Блажкова Е.Н., Гороховатенко Е.С., Огородников И.А.

Дата поступления статьи: 17.06.2021

В наши дни, из-за роста массового производства электронных устройств возникает необходимость в быстрой и точной проверке их характеристик. При этом тестирование устройства, как правило, включает в себя совокупность различных типов проверки, выполняемых на разных этапах технологического процесса производства. В частности, для этих целей используется метод аналогового сигнатурного анализа. Он позволяет быстро обнаруживать неисправности на компонентном уровне, что делает его полезным на различных этапах производства, таких как входной контроль, тестирование печатных плат или ремонт неисправных устройств. В данной статье рассматриваются основные принципы работы метода, а также особенности его применения.

Ключевые слова: аналоговый сигнатурный анализ, тестирование на компонентном уровне, вольт-амперная характеристика, локализация неисправностей

05.13.18 - Математическое моделирование, численные методы и комплексы программ

.